XRD薄膜检测哪里可以做-半导体XRD薄膜测试

XRD薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD即X-ray diffraction（X射线衍射）的缩写，是研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法，也是科研人常用的材料表征方法之一。通过对材料进行X射线衍射，不但可测定材料的物相和晶体结构，还可以进行单晶分析、结构分析、测定微晶尺寸、宏观及微观应力等。XRD的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，XRD薄膜检测价格，成为一种重要的实验方法和结构分析手段，具有无损试样的优点。为了让各位小伙伴了解 XRD 的分析方法和应用，我们在此倾心整理并推出“XRD全家福”，内容包括XRD理论篇、制样篇、操作篇、软件篇、分析篇和干货篇，共6部分。为广大读者奉上全的XRD经典课件、工具书、视频课程、制样流程、上机操作、分析软件、干货教程等，助你快速成为XRD达人。

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由于百分之一i百的晶态的试样比较难制备，所以通常使用差异分析法。假定结晶相百分数正比于衍射峰积分强度之和，非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。

即Xc=PIc;Xa=QIa

则:Xc=Ic(Ic+kIa)X100%

【注意：Ic为晶体部分的衍射积分强度，Ia为非晶部分的衍射积分强度。K=Q/P，是晶体部分和非晶部分之间的单位物质的相对散射因子】

由上式已知，若温度K也已知，则即可求出样品的结晶点。但相对干同一个试模而言，K是常量。人们可利用测定二个不同结晶度的同一试模来计算出K值，从而得出试样的结晶度。

相对结晶度

如果将K值取1则Xc=Ic/(Ic+Ia)，即为相对结晶度。

这个统计方法虽然不准确，但对试样也存在择优取向，且同晶相合非晶相的化学成分也相同，XRD薄膜检测实验室，可认为，该法有比较意义。其实，得到结晶性相当麻烦，青海XRD薄膜检测，所以相对结晶度反而是比较常用的办法。

分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ

【注意:λ为X guang线的长度，n则为的正整数，即衍射级数】

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X射线衍射仪(XRD)相关术语解释

能量分辨

是指检测器接收某一能量的（某一波长射线的光），所输出脉冲信号的平均幅度与入射的能量成正比的特性。

闪烁检测器是各种晶体X射线衍射工作中通用性能好的检测器。它的主要优点是：对于晶体X射线衍射使用的X射线均具有很高甚至达到100%的效率；使用寿命长，稳定性好；此外，它和PC一样，具有很短的分辨时间（10-7秒数量级），因而实际上不必考虑由于检测器本身的限制所带来的计数损失；它和PC一样，对晶体衍射工作使用的软X射线也有一定的能量分辨本领。因此通常X射线粉末衍射仪配用的是闪烁检测器。

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