河北超声波C扫描检测-北京纳克公司-超声波C扫描检测机构

超声 C 扫描的基本原理

超声 C 扫检测本质上是在常规超声 A 扫检测基础上利用电子深度门记录反射回波信号，通过接收电路放大后在示波屏上显示，当探头对工件进行整体扫查后，超声波C扫描检测机构，即可得到工件内部缺陷或界面的俯视图。C 扫图像可以直接反映工件内部与声束垂直方向上缺陷的二维形状与分布，通过不同的颜色标示缺陷的埋藏深度。

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C 扫描优势

优势一：“点聚焦探头”让超声能量高度集中，可以检测出更细微的缺陷

C扫描使用点聚焦探头，如图1点聚焦探头示意图，通过探头中的透镜，把一束超声波聚焦为1个点，超声波C扫描检测公司，能量高度集中，能发现更细微缺陷；

图2 是实测的点聚焦探头的声场图，检测时把板厚置于焦柱范围内即可，制作探头时焦柱长度可控制在5~50mm。

图1：点聚焦探头示意图

图2：点聚焦探头实测声场图

优势二：“密集的步距”保证了扫查的高度精细化

常规A扫探伤时，步距一般是探头晶片的尺寸，一般是10~20mm

但C扫描一般控制在0.1~3之间，当然步距太小会极大地降低检测效率。

比如：如果人工检测，用直径20mm的探头检测，100*100的区域一般观察25个点。C扫描选择1mm步距时，是记录了10000个点

25个点和10000个点相比，扫查的精细化显而易见

C扫描腐蚀成像检测可选择以下两种扫查器

1、R型扫查器：(1)单轴手动编码器，使用方便。(2 )扫查架轻便小巧，探头组合方便更换。(3)可测量缺陷的自身高度，河北超声波C扫描检测，实现缺陷的跟踪、 监控。2、半自动扫查器:(1)方便驱动双轴自动扫查器，进行一定区域内的半自动扫查。(2)了探头保持架可对曲面进行一定量的跟踪功能。(3)B-扫描和B-扫描可以提供C-扫描图像上任何位置正交两个断面的深度信息。相应的A-扫描也可以显示在同一屏幕上。(4)全波形记录功能，可在生成的C-扫描图像上察看任意位置上的A-扫描波形。的检测方法，符合*新版的ASME规范要求。(5)定位定量准确。(6)B实时成像。(7)可实现任意一点的波形回放。