对比试样/块校准-北京纳克无损公司-对比试样/块校准方案

对比试样校准介绍

用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，对比试样/块校准哪家好，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，对比试样/块校准，目的是降低板厚的滞后调整时间。

对比试样校准类型

1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。

2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

对比试样校准根据测量原理分类

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高  

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，对比试样/块校准机构，此种方法较磁性测厚法精度低。  

3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，对比试样/块校准方案，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。  

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。  

5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。