试样校准-北京纳克无损-试样校准方案

对比试样校准概述

是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；

对比试样校准测量结果差别大？

探头的放置方法对测量有很大影响，试样校准报价，在测量中应使探头与被测件外表坚持笔直。而且探头的放置时刻不宜过长，避免形成基体本身磁场的搅扰。测量时不要拖动探头，由于这么不仅对探头会形成磨损，也不会得到的测量成果。别的，基体金属被磁化、基体金属厚度过小、工件曲率过小、测量基座外表有锈蚀、测量现场周围有电磁场搅扰等要素都有也许致使测量成果的反常，试样校准公司，假如离电磁场十分近时还有也许会死机。

对比试样校准测量前的准备 

1. 对比试样的人工缺陷应使用酒精或C?H?O进行清洗，用滤纸擦干，保持表面清洁，无锈蚀、金属屑、毛刺、污染物等影响测量的缺陷。  

2. 将对比试样人工缺陷平行放置在载物台上(必要时使用合适的工装予以固定)，调整试样，试样校准，使人工槽长度或宽度方向与显微测量设备的X或Y轴平行。

3. 显微镜在合适的明场条件下，先用低放大倍数（10×或20×）找到人工缺陷位置，再换至高放大倍数对试样聚焦，调整载物台及试样，使人工缺陷处于视场中央。  调整测量设备，使测量面聚焦清晰，选择测量点位。