光学相干层析成像系统结合了低相干干涉和共焦显微测量的特点。系统选用的光源为宽带光源，常用的是超辐射发光二极管(SLD)。光源发出的光经2×2耦合器分别通过样品臂和参考臂照射到样品和参考镜，两个光路中的反射光在耦合器中汇合，而两臂光程差只有在一个相干长度内才能发生干涉信号。同时由于系统的样品臂是一个共焦显微镜系统，探测光束焦点处返回的光束具有的信号，可以排除焦点外的样品散射光的影响，这是OCT可以成像的原因之一。把干涉信号输出到探测器，信号的强度对应样品的反射强度，经过解调电路的处理，后由采集卡采集到计算机进行灰度成像。
武汉沐普科技SLD（SLED）宽带光源涵盖了800-1650nm波长范围内不同波长区间的要求，典型中心波长包括：840nm、1060nm、1310nm、1550nm等，输出功率和谱宽具有非常大的选择空间。另外公司还可以根据客户的要求提供低偏振度的SLD光源，满足客户不同应用领域的要求
SLD，Super-Luminescent l Diodes，即超辐射发光二极管光源。其器件结构与激光二极管LD类似，包含一个电流驱动的p-n结和一个光波导。在正向电流注入下，有源层内反转分布的电子从导带跃迁到价带或杂质能级时，与空穴复合而释放出光子。此时，较弱的自发辐射光，进入到光波导，获得增益，进行光放大，后输出。
因此可以将SLD看作是一种不需要入射信号的半导体光放大器。
武汉沐普科技SLD（SLED）宽带光源涵盖了800-1650nm波长范围内不同波长区间的要求，典型中心波长包括：840nm、1060nm、1310nm、1550nm等，输出功率和谱宽具有非常大的选择空间。另外公司还可以根据客户的要求提供低偏振度的SLD光源，SLD，满足客户不同应用领域的要求
在测量光纤和其他光学元件的色散时也要用到SLD，（例如，白光l干涉仪）。 通常在这类应用中，一般使用1300 nm或者1500 nm的SLD。
在温度/应变光纤传感应用中，SLD的高输出功率可以在长距离的光纤上同时采集更多的传感器。
在光纤陀螺仪中，SLD可以避免在低旋转速率情况下发生相位锁定的现象。
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