3、基本功能验证、MCU为复杂电路、芯片中具有微程序控制任务的产品叫做复杂电路。复杂电路使用ATE进行静态/动态参数测试时,其中包含了功能的矢量,因此即使基础测试通过,复杂电路并不能被视为OK,由于功能向量的要求很高,ATE不能做到这一点,电动执行器认证,存储深度也不能支持复杂电路,“任何时期的ATE都不能支持复杂电路的发展要求,简单ATE的测试也不能判断复杂电路的完整性。”陈大为说到,电动执行器认证企业,“对于复杂电路一定要进行功能验证,比如说复杂电路有很多高速接口、协议完整性跟电器物理参数靠ATE测试就没戏,必须要做EVB(板极)测试做功能演算,或是用ATE+台式仪器。”测试温度环境:- 40℃ 、 25℃ 、85℃( 105℃ 、 125℃ 、 150℃ )。





大名鼎鼎的AEC-Q系列标准
说到汽车电子,不得不提AEC,它全称汽车电子协会(Automotive Electronics Council),电动执行器认证时间快,是1993年美国三大公司克莱斯勒、福特和通用发起建立的可靠、高质量电子元器件标准的标准化机构,目的是制定可靠,youzhi的电子元器件通用标准。符合上述准则的元器件可以应用到汽车环境中zui低要求而不需要附加元器件级鉴定试验,如人们普遍认可的集成电路失效机理应力试验条件AEC-Q100等。还有一些:
1、 AEC Q101 “基于失效机理的车用半导体分立器件应力测试条件”;
2、 AEC Q102 “基于失效机理的车 用半导体发光器件应力测试条件”;
3、 AEC Q103* “基于失效机理的车用 MEMS 压力器件应力测试条件”;
4、 AEC Q104 “基于失效机理的车用 MCM 器件应力测试条件”;
5、 AEC Q200 “无源器件应力测试条件”
芯片制造可靠性测试
1、电迁移 (EM)
2、电介质击穿(TDDB)
3、热载流子注入效应(HCL)
5、负偏压温度不稳定性(NBTI)
6、应力迁移(SM)
电性验证测试
1、应力测试和试验前后功能/ 参数(TEST)
2、静电放电人体模型/ 机械模式(HBM/MM)
3、静电放电带电期间模式(CDM)
4、闩锁效应(LU)
5、电分配(ED)
6、故障等级(FG)
7、特性描述(CHAR)
8、热电效应引起闸极漏电(GL)
9、电磁兼容(EMC)
10、短路特性描述(SC)
11、软误差率(SER)
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