定频跌落测试-tbk天标检测(推荐商家)

对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，对于手持型产品（如手机， MP3等）大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，定频跌落测试，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品（如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。

本机可对包装件的面、角、棱作自由跌落试验，配备数显高度显示仪及采用译码器进行高度跟踪，从而能给出产品跌落高度，与预设跌落高度误差不超过2%或10mm。本机采用单臂双柱结构，具有电动复位、电控跌落及电动升降装置：使用方便；独有的液压缓冲装置大大的提高了机器使用寿命、平稳性及安全性 单臂设置，可方便地放置产品，跌落角度冲击面与底板平面角度误差小于等于5。

苏州天标检测技术有限公司成立于2011年，拥有显微分析、热分析、无损检测、化学成分、物理性能、可靠性等多种检测与分析项目，借助科学的检测分析方法、的工程技术人员和精良的仪器设备，我们帮助客户解决在产品研发、生产、贸等环节遇到的各种产品的检测认证问题。是集产品综合性检测、分析、鉴定、评估和咨询服务的单位。

80%的电子产品损坏大都来源于跌落碰撞，研发人员往往耗费大量的时间和成本，针对产品做相关的质量试验，常见的结构试验就是跌落与冲击试验。这种方法可靠，但也存在很多不足之处，主要表现在：1.试验的操作实施过程需要耗费大量的人力、财力，从而增加产品的成本。2.试验发生的历程很短，很难观察到试验过程中的现象。3.试验测试的条件（如碰撞角度等）难以控制，使得试验重复性很差。4.试验一般只能得到试验结果，而很难观察现象发生的原因。5.试验时很难观察产品的内部特性和内部现象，如加速度响应等。