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光纤光谱仪薄膜厚度测量

光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，近红外光纤光谱仪厂家，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，近红外光纤光谱仪，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，近红外光纤光谱仪厂家，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。

采购拉曼多通道光纤光谱仪，近红外光纤光谱仪厂家，用于科学研究和工业生产中的光谱分析。该设备具有高精度、高灵敏度和多通道的特点，可以同时测量多个光谱信号，大大提高了工作效率。

光纤光谱仪

便携式光谱仪是光学仪器的主要构成部分。由于其检测精度高、速度快等优点，已成为光谱测量学中使用的重要测量仪器被广泛应用于农业、生物、化学、地质、食品安全、色度计算、环境检测、卫生、LED检测、半导体工业、石油化工等领域。在上世纪九十年代以来，微电子领域中的多象元光学探测器（例如CCD，光电二极管阵列）制造技术迅猛发展，使生产低成本扫描仪和CCD相机成为可能。德国MUT公司的光谱仪使用了同样的CCD(CCD光谱仪)和光电二极管阵列探测器，可以对整个光谱进行快速扫描，不需要转动光栅。