





创新的eQ? Electroics电子系统:确保快速扫描,ESI的快速正负切换
eQ电子系统的设计,使串联四极杆的速度提高了四倍而不降低灵敏度;碰撞室采用动态轴向设计;母离子扫描和中性丢失扫描的性能没有降低。
极大的优点是提供更快的MRM速度:
我们知道,MRM的速度跟几个因素有关,扫描速度、离子驻留时间(dwell time)、MRM切换速度,有时需考虑正/负离子切换速度。

MRM实验中扫描的是一个质量数,所以扫描速度(2,000 amu/sec)已经远远超过了MRM实验的要求;过去制约速度的瓶颈是离子驻留时间,过去常需要几十毫秒,如果过短,数据质量会受到影响。对于MRM切换速度存在同样的瓶颈。
5500的创新设计使其即使在2毫秒的驻留时间、2~3毫秒的MRM切换速度下,不降低数据质量

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