光纤光谱仪薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。
拉曼多通道光纤光谱仪价格
拉曼多通道光纤光谱仪的价格会受到多种因素的影响，通用型光纤光谱仪，例如品牌、型号和功能等。以下是一些可能影响价格的因素：
1.设备的技术水平:高技术水平的设备和低技术的设备的成本是不同的，通用型光纤光谱仪厂家，因为高技术和高质量的设备需要更多的研发和维护费用来生产它们。因此，这种类型的仪器通常比低端产品更昂贵一些。
便携式光纤光谱仪
便携式光纤光谱仪能够提供植被化指数（NDVI）和植被等物质的红光与近红外的比值。这些指数能够用来作为农学参考，通用型光纤光谱仪厂家，反映作物对于养分的响应、作物生长条件、潜在产量、应力以及病虫害的影响等。
该系统也可以用来监测作物生长期间，田间（作物、植被）环境的变化，或者对比不同施肥量与当准施肥量之间所产生的差异。
软件中积分时间的可由用户设定，它类似于一个照相机的快门速度：积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。
因为，探测器有一个电子快门，你可通过软件设定zui小积分时间到10μs，这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。
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