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光纤光谱仪薄膜厚度测量

光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，光纤光谱仪厂家，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。

拉曼小型光纤光谱仪是一种便携式光谱分析设备，光纤光谱仪厂家，它使用光纤将光源引入样品，盟光纤光谱仪，并通过拉曼散射技术获取样品的光谱信息。这种设备具有体积小、重量轻、操作简便、测量速度快、精度高等优点，广泛应用于化学、生物、材料、环境等领域。

　光纤光谱仪的优势在于测量系统的模块化和灵活性。德国MUT的微型光纤光谱仪的测量速度非常快，可以用于在线分析。而且由于采用了低成本的通用探测器，降低了光谱仪的成本，从而也降低了整个测量系统的造价

　　光纤光谱仪基本配置包括包括一个光栅，一个狭缝，和一个探测器。这些部件的参数在选购光谱仪时必须详细说明。光谱仪的性能取决于这些部件的组合与校准，校准后光纤光谱仪，原则上这些配件都不能有任何的变动。

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