




射频同轴连接器作为无源器件的一个重要组成部分,北京半导体射频测试,具有良好的宽带传输特性及多种方便的连接方式,因而被广泛应用于测试仪器、通讯设备等产品当中。由于射频同轴连接器的应用几乎渗透到国民经济的各个部门,其可靠性也越来越引起人们的关心和重视。针对射频同轴连接器失效模式进行了分析。
N型连接器对连接好后,连接器对的外导体接触面(电气和机械基准面)依靠螺纹的拉力相互顶紧,从而实现较小的接触电阻(<5mΩ)。插针内导体的插针部分插入插孔内导体的孔内,并通过插孔壁的弹性保持两个内导体在插孔内导体的口部良好的电接触(接触电阻<3mΩ)。此时插针内导体的台阶面与插孔内导体端面并未顶紧,而是留有<0.1mm的间隙,这个间隙对同轴连接器的电气性能和可靠性有重要影响。N型连接器对的理想连接状态可归纳为以下几点:外导体的良好接触、内导体的良好接触、介质支撑对内导体的良好支撑、螺纹拉力的正确传递。以上连接状态一旦发生改变将导致连接器的失效。下面我们就从这几个要点入手,对连接器的失效原理进行分析,从而找到提高连接器可靠性的正确途径。
温度、湿度以及其它环境条件是由电连接器所处的位置决定的,因而应考虑该位置及预期的环境。而其它相关贮存条件的适用期(shelflife)以及信息是什么。对环境的阐述中也应当涵盖有对冲击与振动的要求,包括出自于海运方面的要求,以及生产环境条件例如焊接温度与焊接周期持续时间的要求。连接器供应商表示,半导体芯片射频测试,在连接器所导引的汇合型持续电流周围就是高温度产生的区域。
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