






第二块光栅放置在塔尔博特长度的一小段距离(dT)处,用于分析干涉图样(图 11)。该技术可直接记录X 射线相移,从而获得样品折射率的测量值,并为小相位梯度或平滑相位梯度提供佳结果。
有两种方法可以区分信号的不同贡献:相位步进技术和利用莫埃纹的方法。
这两种方法都可用于获取平面图像和断层成像图像,并能产生复折射率的实分量和虚分量信息。
所述装置通常用于同步设施,因为它要求 X 射线束具有高度的空间相干性。不过,GI方法也可以在传统的X射线管中使用,使用第三个附加光栅,即 Talbot-Lau 干涉仪。
传统的多色 X 射线源可以通过相位步进配置有效地使用,因为在很宽的 X 射线能量范围内,源光栅后面产生的干涉条纹的位置与波长无关。
相反,摩尔纹配置允许使用适度的多色性,因为能量带宽过宽会降低摩尔纹的可见度,并恶化图像质量。
为了获取物体对光束的吸收和相移的定量信息,人们研究了一系列算法。通常是通过耦合一组在不同距离z处记录的菲涅尔衍射图样来解决这一逆向问题。
一种基于强度传递方程 (TIE) 并使用单一PB 距离的简化算法被广泛应用于均匀样品的近场机制,以将相位与吸收效应解耦。这种算法还可用于提高图像衬度度,促进基于传播的图像分析,其中获得的边缘增果提高了结构细节的可见度,但却阻碍了依靠基于阈值的数据集分割进行的进一步定量分析。

根据该方法的性质,ABI可生成样品中折射率梯度的图像。需要注意的是,在图10中,所有晶体都采用布拉格几何形状,但也有采用 Laue 衍射法的其他排列方式。
其基本原理是,当分析器晶体完全达到其反射率曲线的峰值(称为摇摆曲线)时,双能x射线骨密度,它就会起到反散射网格的作用,从而产生清晰的纯吸收图像。根据晶体相对于主 X 射线束的方向,还可以研究其他相位效应。
事实上,ABI 图像通常由吸收、折射以及小角度和超小角度散射效应的混合物组成,这些效应可以通过组合在晶体摇摆曲线不同位置产生的图像来提取。

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