海南特种设备无损检测-华羽盛泰定期检测公司

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胶片选择

AAB用C5B C4类或更高类别的胶片。

用y 进下限值 R40MP高强度材料射线检测时，应采用 C4 类或更高类别的胶片。

透照布置

胶片透照技术，本部分允许以下两种胶片透照技术:单胶片透照技术使用单张胶片。X 射线(100kV) 和 T170 射线源只允许采用单胶片透照技术。l双胶片透照技术使用两张分类等级相同或相近的胶片。

透照方式 应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的照方式。在可以实施的情况下应优先选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录 E。安放式和插式管缝应先选择源在外照式。插人式座焊缝源在内透照方式时，应优先选择射线源放置在支管轴线上的透照布置。透照方向透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，并应与工件表面法线重合，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。

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通用原则

1每一种无损检测方法均有其能力范围和局限性，且应保证足够的实施操作空间。本部分所涉及到的各无损检测方法的能力范围和局限性见5.2，通常能检测的一般缺陷见附录A(资料性附录)。

2仅能检测表面开口缺陷的无损检测方法包括渗透检测和目视检测。掺透检测主要用于非多孔性材料；目视检测主要用于宏观可见缺陷的检测。

3能检测表面开口缺陷和近表面缺陷的无损检测方法包括磁粉检测和涡流检测。磁粉检测主要用于铁磁性材料；涡流检测主要用于导电金属材料。

4 可检测材料中任何位置缺陷的无损检测方法包括射线检测、超声检测、衍射时差法超声检

测和X射线数字成像检测。一般而言，超声检测、衍射时差法超声检测对于表面开口缺陷或近表面缺陷的检测能力低于磁粉检测、渗透检测或涡流检测。

5 为确定承压设备内部或表面存在的活性缺陷的强度和大致位置，可采用声发射检测。声发

射检测需要对承压设备进行加压试验，发现活性缺陷时应采用其他无损检测方法进行复验。

6仅能检测承压设备贯穿性缺陷或整体致密性的无损检测方法为泄漏检测。

7对于铁磁性材料，为检测表面或近表面缺陷，应优先采用磁粉检测方法，确因结构形状等原因不能采用磁粉检测时方可采用其他无损检测方法。

8 当采用一种无损检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准

9 当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按各自的方法评定级别。

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目视检测的一般要求除应符合 JB/T 730.1 的有关定外，还应符合规定

检测人员

目视检测人员未经矫正或经矫正的近()视力和(视应低.0(小记值1.0)，测试方法应符合 GB 11533 的规定。测人员应每 12个次力以保证常的或正确的近距离分辨能力。

如果检测可能对辨色力有特别要求，经合同各方同意，检测人员宜补充辨色力测试，以保证必要的辨色力。