Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，北京X-RAY检测，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，X-RAY检测仪品牌，LED，MOSFET，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。
应用范围压缩空气氧气氮气和蒸汽系统的泄漏检测
真空系统泄漏检测
电力系统中电气设备接触不良的局放电电晕产生的高电压绝缘子缺陷造成的泄漏检测
联合密封，压力容器及需要密封的环境（例如：城际快速列车飞机航空设备潜艇等等）
机械领域中的有缺陷轴承的检测压力、真空泄漏检测，X-RAY检测价格，热交换机、锅炉、冷凝器检测，阀门、管道内漏检测，X-RAY检测仪多少钱，电气设备局部放电检测，密封性检测仪，轴承监测，预知性维护系统解决方案。
微焦点X射线
针对大尺寸电子模块的缺陷检测和电子行业产品质量控制的需求，解决三维分层成像关键科学问题，实现电子模块封装、印刷电路板、高密封装等焊接质量的高精度自动无损检测，将应用于航天、航空、海装、陆装、战略等各类装备电子学系统的产品鉴定与评估、破坏性物理分析（DPA）、产品工艺质量鉴定等，在装备的研制生产环节中、在装备研制过程中，识别由于产品设计、工艺设计、物料引入过程中所带来的缺陷，如PCB的孔断、焊点的枕头效应、裂纹、BGA器件焊球缺陷以及结构损伤等，提高电子产品质量和可靠性水平，提升产品研发设计和制造工艺水平，增强电子产品缺陷识别与分析能力。
采用了的Computed laminography (CL)扫描模式和算法，具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。
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