X射线荧光光谱仪（XRF）的基本原理
X射线荧光光谱仪（XRF）基本原理
X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，手持金属成分检测仪采购，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，手持金属成分检测仪生产厂，地球化学，手持金属成分检测仪，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。
手持光谱分析仪为管道通道保驾护航
手持式光谱分析仪能够合金材料、三元催化、管道通道等，能在众多行业中起到绝大多数的作用，并且给这些材料提供出一个准确的化学元素组成成分和合金辨别信息。
手持式光谱分析仪不仅检测速度快，也能在几秒中分辨出材料中所含有的元素含量，仪器的屏幕显示出清晰、明亮等特点，仪器在恶劣的环境下也能够进行检测，重要拥有光谱分析仪器不仅能够减少管道通道的事件事故还能增加管道通道的安全特点。
金属成分分析仪产品简介
金属成分分析仪是采用XRF（荧光光谱分析）原理，对金属材料成分进行快速检测的仪器。由于X射线波长很短，因此是不可见的。但它照射到某些化合物如磷、硫化锌镉、钨酸钙等时，手持金属成分检测仪报价，由于电离或激发使原子处于激发状态，原子回到基态过程中，由于价电子的能级跃迁而辐射出可见光或紫外线，这就是荧光。X射线使物质发生荧光的作用叫荧光作用，荧光强弱与X射线量成正比。美国伊诺斯（INNOV-X）公司利用X射线荧光光谱分析仪原理推出世界首台应用于金属材料检查的手持式金属成分分析仪Alpha-2000，该仪器能够快速分析金属材料成分及含量。
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