吸入试验装置发生器DF-5型-津泽机电科技(优选商家)

MARIMEXROV相关设备Caviblaster1325-GSS

Caviblaster1325-GSS，Caviblaster1228G

产品介绍

Caviblaster1325-GSS：Caviblaster1325-GSS是一种新产品。推车、卸料器和软管快速接头部件由不锈钢制成，比传统产品不易生锈。

Caviblaster系统去除海洋污垢生物的时间比传统的手动清洁方法要短得多，从而降低了运营成本。紧凑的Caviblaster装置可清洁钢材、混凝土、木材、橡胶、玻璃纤维、绳索、网或结构，而不会损坏现有表面或表面涂层。更强大的Caviblaster模型可快速清洁表面直至的金属，去除重污垢和氧化。

产品特点

适用于去除船壳和清洁海洋生物

可有效清洁养鱼场网和船底，维护海洋结构物等。

适用于去除船壳和清洁海洋生物

抛射部分有无后座力炮型和圆顶型两种。

提供可选的 ROV 安装型号

SEMILAB薄膜厚度和电阻率测量装置WMT

光致发光PLl-101/A， PLI-103/A，寿命测量装置WML，WLL，薄膜厚度和电阻率测量装置WMT，WLT，发生器SG-300型，晶体形状测量装置TTR-300，发射极片电阻测量装置CMS，CLS，激光椭圆仪SE-100IL，LE-100IL

产品介绍

用于晶体和电池检测的光致发光设备快速可靠的在线光致发光设备，用于在从切割晶体到成品电池的所有加工阶段对晶体和电池质量进行无损测量。可以完全控制整个制造阶段的材料质量。高质量的晶体可生产出的电池，从而降低制造成本。

对厚度、TTV 和电阻率进行高速、非接触式评估。厚度和电阻率是光伏应用中硅片的关键质量控制参数。WLT 型号（WLT-1、WLT-3、WLT-5）在线薄膜厚度和电阻率测量系统提供 1-5 点厚度和 1 点电阻率，用于全自动晶圆生产线的在线质量控制满足要求的高吞吐量。WMT 型号（WMT-1、WMT-3）薄膜厚度和电阻率测量系统允许在不停止传送带的情况下进行晶体测量（“动态”测量）。

两侧的厚度、电阻率和锯痕都可以用这个太阳能硅片轮廓测量系统测量。

发射极扩散后，发射极薄层电阻是 PV 应用中硅晶片的关键质量控制参数。

CLS 型号（CLS-1A、CLS-3A、CLS-5A）的发射极薄层电阻测量系统以高吞吐量测量 1 到 5 个点的薄层电阻，以满足全自动电池生产线中在线质量控制的要求。

CMS 型号（CMS-1A、CMS-3A）的发射极薄层电阻测量系统允许在不停止传送带的情况下测量晶圆（“On the Fly”测量）。因此，它实现了高通量，吸入试验装置发生器DF-3型，以满足电池全自动化生产线中在线质量控制的要求。

LE-100IL：用于 PV 晶体涂层测量的在线激光椭圆仪

中央电机计器CEW高精度自动尺寸测量仪GSS2-HL S150120MH

2.5维尺寸自动测量仪SmartEdge GS2-HL S150120MH

GS2-HLS150120MH（工件尺寸：1，500 x 1，200mm）

除了薄膜等平面工件的二维测量外，发生器，还可以轻松测量工件的厚度和高度。

该设备非常适合那些说“不需要 3D，但 2D 也不够”的客户。

由于可以在工件上的任何地方进行测量，因此可以测量工件周围以外无法用测微规测量的地方。

结合四向照明，可测量刀模刀口的高度和尺寸。

特征

除了正常的二维测量外，还可以测量微米级的工件高度。

可以测量千分尺不能测量的地方（不仅工件端面附近，中心也可以测量）

可用于切削模具（汤姆逊刀片）、树脂成型品、金属加工品等具有多种特性的产品。

低接触压力传感器不会损坏工件。

扫描式自动尺寸测量仪SmartEdge S-CN4030

型号：S-CN4030（工作尺寸：400 x 300mm）

这是一种扫描式自动尺寸测量设备，可以一键测量。

只需一次扫描即可立即测量尺寸。

一般适用于测量薄膜、垫圈和其他冲压产品。

后期无法自动测量的地方可以自由测量，吸入试验装置发生器DF-5型，简单方便！

特征

一键测量，无需示教

当然，也可以任意测量任意一点。

大可测量 A3 尺寸

多个工件的批量测量有助于提高作业效率

扫描后，您可以稍后随时测量

用途

A3尺寸以下的薄工件

适用于经常测量一个项目而不是测量大量相同项目的客户。

精密钣金（模具）、印刷电路板、各种薄膜等。