装置-蒸馏装置HP-1000-T型-津泽机电科技(优选商家)

SIBATA柴田科学鼻暴露吸入实验装置SIS-B型

SIS-B型，SIS-A型，SIS-C型，SIS-D型，

产品介绍

粉末曝光室SIS-D型:本装置是以粉煤灰、等常温下为固体的细颗粒物进行生物效应研究和检测为目的的吸入实验系统。它结合了自动浓度控制装置，以保持颗粒物均匀。

小型全身暴露试验设备:试验箱采用透明制成，便于实验时观察动物。

圆筒形鼠笼确保在狭小的安装空间内可以容纳大数量的动物。送风/排气处理装置可对送风进行加湿，蒸馏装置HP-9100-B型，去除试验物质。与各种发生器（选配）组合，可进行各种曝光实验。由于使用我们的低容量泵LV-40BW型来控制排气流量，因此很容易控制流量。锥形室上下分离，便于实验动物的放入、取出和粪便的处理。

TAQUANN直喷式全身吸入器：该装置的生成方法是将样品加载到墨盒中并注入全部量。即使使用少量样品也可以进行测试，损失很小。这是针对国立保健科学研究所开发的高分散法（TAQUANN法）优化的吸入实验装置。

中央电机计器CEW尺寸测量设备GS-HB6040

型号：GS-HB6040（工作尺寸：570 x 420mm）

smart edge 系列中通用的型号。

虽然它具有广泛的测量范围，但它非常紧凑，并且它是一种价格合理的设备，只有低限度的必要规格。

特征

大可测量 A2 尺寸的桌面型！

低限度的必要简单规格的格！

改变照明的选项

因为它是标准产品，所以可以缩短交货时间。

用途

用游标卡尺代替目测和手工测量

一般模切产品

特别适用于汤姆逊式冲孔的工件。

精度不是很高，可以测量大 A2 尺寸的工件尺寸。

我们擅长批量生产需要频繁测量的工件。

大型花岗岩台面自动尺寸测量装置SmartEdge GS-HLS180120G

型号：GS-HLS180120G（工件尺寸：1，800 x 1，200mm）

由于是石材面板规格，伸缩平缓，可以进行稳定的测量。

大屏幕电视光学膜制造商的介绍结果很多。

也可以选择升级吸附板。

特征

使用石材面板可以进行稳定的测量。

也可加装全表面吸风机构，测量卷曲工件。

许多出货到海外（CE标志也是一个记录）

我们拥有大 1800mm x 1200mm 的跟踪记录

可定制尺寸

用途

一般模切产品

它特别擅长大型工件，非常适合测量光学薄膜（例如大型电视的光学薄膜）。

由于吸附机制，灌装式蒸馏装置，可以抑制大型工件的翘曲。

SEMILAB寿命测量装置WT-2000MCT

寿命测定装置WT-2000（μPCD载体寿命），寿命测量装置WT-2000MCT，SPV设备FAaST 310/210 SPV，FAaST 350 DSPV，装置，载流子寿命测定装置WT-2000/2A

产品介绍

寿命测量装置 WT-2000 是一个功能强大的台式测量平台，能够执行许多不同的半导体材料表征。基本系统包括执行表征所需的所有间接功能，包括电源、计算机、操作软件和 XY 测量台。该系列通常用于创建地图，在地图上使用可编程光栅扫描晶圆。WT-2000 还允许在特定的可编程位置进行测量。除了硅，蒸馏装置HP-1000-T型，SEMILAB 还经营使用短波长激发激光的宽禁带半导体（SiC、GaN）的寿命测量设备。

WT-2000MCT 专为不同样品温度下的 μ-PCD 寿命测量而设计。

除了硅，SEMILAB 还经营使用短波长激发激光的宽禁带半导体（SiC、GaN）的寿命测量设备。

FAaST 310/210 SPV 系统在适合研发和小批量制造环境的设计中提供快速、全晶圆污染成像。

FAaST 330/230 DSPV 系统是世界的设备，可对重金属污染进行非接触式高速在线监测。可以进行晶圆处理。

FAaST 350 DSPV 系统是世界的重金属污染非接触式高速监测旗舰平台。能够检测低于 10 8 个原子/ cm -3的铁并从双 FOUP 装载端口装载站自动处理晶圆，它完够支持苛刻的大批量生产环境。

WT-2000 是中型制造工厂和实验室的推荐装置。