光纤光谱仪薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，微型光纤光谱仪，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，微型光纤光谱仪厂家，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。配套的广州标旗应用软件包括丰富的各种常用材料和膜层的n值和k值，可以实现膜层厚度的在线监测，并可以输出到Excel文件进行过程控制。
波长测量-光纤光谱仪
长是沿着波的传播方向，在波的图形中相对平衡位置的位移时刻相同的两个质点之间的距离。光波是指波长从零点几毫米到大约零点一微米波长范围内的电磁波。光波的波长即为光波长。CNI光纤光谱仪具有体积小，便于携带，微型光纤光谱仪厂家，即插即用，操作方便，微型光纤光谱仪厂家，支持Spectral Analysis 5.0软件等特点，可代替旧式分光光度计。用于测试激光波长、线宽等，还可用于激光激发物质荧光、拉曼、LIBS光谱的检测。
微型光纤光谱仪
光纤光谱仪又称分光仪，广泛为认知的为直读光谱仪。微型光纤光谱仪成为光谱仪器发展的一个重要的研究方向。近年来，由于光纤技术、光栅技术及阵列式探测器技术的发展和成熟，使得光谱检测 系统形成了光源、采样单元及摄谱单元相分离的结构形式，整个系统结构更具模块化，使用更加方便灵活，从而使微型光纤光谱仪成为现场检测和实时监控的仪器。
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