





种多通道高精密LCR测试系统 本发明涉及LCR测试技术领域,公开了一种多通道高精密LCR测试系统,包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡,若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接,所述扫描卡用于实现通道切换,所述测量卡用于实现LCR测试,所述背部连接板用于实现信号的转接,测试治具哪里好,所述背部连接板连接有主控板,所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。

详细参数如下:4、量测速度:128点/10mS;5、测试方式:手动、自动、连续;6、存储管理:512KB ,可存储56组设定档案;7、电阻量测:0.1~10MΩ;8、二极管量测:0.0V~7.0V;9、电容测试:10pF~500uF10、瞬间短断路测试:2KΩ~50KΩ; 11、瞬间导通测试:0. 1Ω-50Ω;12、导通电阻测试:0. 1~50Ω(值0.05Ω)13、绝缘阻抗测试:0.1MΩ~10MΩ

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