







与 ABI 相似,边缘照射(EI)方法也是基于检测光子穿过样品时的折射角。与 ABI 不同的是,EI 并不使用晶体,而是基于放置在样品后面和探测器前面的两套准直狭缝系统来检测折射效应。
图11 所示为同步使用的的技术,该装置由放置在样品前的个狭缝(称为样品前狭缝)和第二个狭缝(称为检测器狭缝)组成,前者用于准直光束,后者与检测器的一个像素行对齐。这两个狭缝具有相同的开口(约几十微米),但稍有错位。

基于分析器的技术(ABI)利用放置在样品和探测器之间的分析器晶体(图10)与单色准直X 射线光束相结合。样品根据折射率的实部δ对透射光束产生偏差(折射)。
晶体就像一个角带通过滤器,选择性地接受或拒绝这些光子。根据晶体的取向,双能x射线骨密度,只有符合布拉格衍射定律的窄角度范围的 X 射线才能传输到探测器并形成图像。因此,利用分析器晶体相对于主光束方向的不同方向,可以利用不同的折射效应,在X射线吸收之外提供额外的衬度。

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