与 ABI 相似，边缘照射（EI）方法也是基于检测光子穿过样品时的折射角。与 ABI 不同的是，EI 并不使用晶体，而是基于放置在样品后面和探测器前面的两套准直狭缝系统来检测折射效应。
图11 所示为同步使用的的技术，该装置由放置在样品前的个狭缝（称为样品前狭缝）和第二个狭缝（称为检测器狭缝）组成，前者用于准直光束，后者与检测器的一个像素行对齐。这两个狭缝具有相同的开口（约几十微米），但稍有错位。
基于相位的 X 射线成像技术如前所述，X 射线在物质中的传播可以通过复折射率来描述，复折射率表示为δ表示折射率下降，它与电磁波在物质中的相移有关，因此也与电磁波偏离入射方向有关。β 是吸收项，与光电效应和散射导致的物质对 X 射线的吸收有关。
因此，相移效应可能比吸收效应大得多，而传统技术正是基于吸收效应。因此，得益于相移效应的贡献，成像系统的灵敏度可以大大提高，小动物双能X线，尤其是当吸收差异产生的衬度不足以从背景中分辨出微小细节时。
此外，由于基于相位的X射线成像方法即使在X射线吸收率较低的情况下也能提供高质量的图像，因此可以使用更高的能量。这意味着，通过选择合适的能量，可以确保对的辐射剂量较低（保持较低的虚部β），同时在折射率下降足够大的情况下，获得良好的相位衬度图像（具有良好的分辨特征）。
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