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搭配Probe card测试适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品电动型chuck尺寸1200mm，测试仪供应，平坦度土1u（不锈钢或镀金）X，Y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调精度土1u可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数8～12颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“材质：花岗岩台面+不锈钢可搭配Probe card测试




探针座：有0.7um、2um、10um精度可选，磁性吸附带磁力开关可搭配Probe card测试适用领域：晶圆厂、研究所、高校等半自动型chuck尺寸800mm/600mmX，Y电动移动行程200mm/150mmchuck粗调升降9mm，微调升降16mm可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数6～8颗显微镜X-Y-Z移动范围2"x2"x2"科迪仪器科技(苏州)有限公司科迪仪器科技(苏州)有限公司




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