与 ABI 相似，边缘照射（EI）方法也是基于检测光子穿过样品时的折射角。与 ABI 不同的是，EI 并不使用晶体，而是基于放置在样品后面和探测器前面的两套准直狭缝系统来检测折射效应。
图11 所示为同步使用的的技术，该装置由放置在样品前的个狭缝（称为样品前狭缝）和第二个狭缝（称为检测器狭缝）组成，前者用于准直光束，后者与检测器的一个像素行对齐。这两个狭缝具有相同的开口（约几十微米），但稍有错位。
根据该方法的性质，ABI可生成样品中折射率梯度的图像。需要注意的是，在图10中，所有晶体都采用布拉格几何形状，但也有采用 Laue 衍射法的其他排列方式。
其基本原理是，当分析器晶体完全达到其反射率曲线的峰值（称为摇摆曲线）时，它就会起到反散射网格的作用，从而产生清晰的纯吸收图像。根据晶体相对于主 X 射线束的方向，还可以研究其他相位效应。
事实上，ABI 图像通常由吸收、折射以及小角度和超小角度散射效应的混合物组成，这些效应可以通过组合在晶体摇摆曲线不同位置产生的图像来提取。
在过去的 20 年中，人们探索了不同的基于相位的X射线成像方法，如今这些方法已得到广泛应用。下面将简要介绍应用多的相位敏感方法，即基于传播的成像（PBI）、基于晶体分析仪的成像（ABI）、边缘照明（EI）和Talbot （或光栅）X 射线干涉测量（GI）。
基于传播的成像（PBI）是简单的一种相位衬度技术，因为光束中不需要光学元件，也不受光束单色性的限制。在这种模式下，当光束穿过物体时，双能x射线骨密度，波前的不同部分会产生不同的偏转，从而产生干涉，产生特征图案，该图案会被放置在离样品本身适当距离（图8）的探测器记录下来。
由于菲涅尔衍射原理，相移会转化为可探测到的强度变化。为了实现传播光束的干涉，需要非常高的空间相干性，并且需要高分辨率的探测器来观测条纹。
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