与 ABI 相似，边缘照射（EI）方法也是基于检测光子穿过样品时的折射角。与 ABI 不同的是，EI 并不使用晶体，而是基于放置在样品后面和探测器前面的两套准直狭缝系统来检测折射效应。
图11 所示为同步使用的的技术，该装置由放置在样品前的个狭缝（称为样品前狭缝）和第二个狭缝（称为检测器狭缝）组成，前者用于准直光束，后者与检测器的一个像素行对齐。这两个狭缝具有相同的开口（约几十微米），但稍有错位。
1 吸收状态：样品到探测器的距离接近于零。
2近场衍射机制：有效传播距离相对较小，即 rF2 = λD ?h2。rF是所谓菲涅尔区在样品平面上的半径，它决定了物体中对图像中的点 P有贡献的有限区域。在这些条件下，衬度是在特定物体特征周围局部形成的。物体内部细节的边界会被强烈增强（众所周知的 "边缘增强"的效果），每个边缘都对应一个明显的干涉图案，从而提供可靠的物体形态信息。为了表达近场模式的上述条件，必须定义菲涅尔数为 NF ≡ h2/(λD)，这样 NF ?1。
与 ABI 一样，EI也能生成样品折射率梯度的图像。沿着与狭缝正交的方向逐步扫描样品，然后将所有单线粘贴在一起，即可获得样品的整体图像。
由于EI技术不需要相干源，因此针对传统 X 射线管开发了一种改进的设置。在这种情况下，可以用两个掩膜（图10）代替两个狭缝，从而实现上述工作原理，掩膜的特点是有多个孔径，而且不再需要垂直样品扫描。
基于光栅的成像（ Grating X-Ray Interferometry，GI）系统以使用光栅干涉仪为基础。该技术基于Talbot 在19世纪 30 年代发现的光学现象，并设想使用相位光栅和分析光栅。
根据这一现象，在 X 射线照射下，光栅再现的图像会以 dT = 2p2/λ 的规则距离重复出现，小动物双能X线，其中p是光栅的周期。物体会对X射线光束产生吸收、折射和散射效应，从而改变光栅产生的干涉图案。因此，可以利用角度偏移作为探测器上的强度调制，测量有样品和无样品时干涉图案的变化。
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