







CT的局限、优化与展望
要成功解析内部特征,体素尺寸必须明显小于特征尺寸。即使是对辐射不敏感的材料,高X射线剂量和高通量也会导致辐射损伤。
成像伪影(如光束硬化)会严重影响X射线断层图像的解读,因此应该对其进行优化。X射线断层扫描图,应尽可能进行校正。后,大型三维图像数据集(大于100s Gb)给存储、分析和可视化带来了挑战。
后,更快的图像采集速度和改进的重建算法将使实时成像成为可能。机器学习将降低分割和标记复杂断层图像所需的知识。增加元素选择性的方法可以补充当前的形态学信息。

与 ABI 相似,边缘照射(EI)方法也是基于检测光子穿过样品时的折射角。与 ABI 不同的是,EI 并不使用晶体,而是基于放置在样品后面和探测器前面的两套准直狭缝系统来检测折射效应。
图11 所示为同步使用的的技术,小动物双能X射线,该装置由放置在样品前的个狭缝(称为样品前狭缝)和第二个狭缝(称为检测器狭缝)组成,前者用于准直光束,后者与检测器的一个像素行对齐。这两个狭缝具有相同的开口(约几十微米),但稍有错位。

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