真空袋生产中红外光谱,特性,红外光谱法是鉴别聚烯烃薄膜的方便方法 ,主要的聚烯烃都可以很容易地鉴别出来。仔细分析红外光谱能分清甚至是非常相似的结构
,而且还可以测量支化度 , 结晶度也可以间接地测量出来。2.共混物和复合层的组分分析可以鉴别出聚烯烃的共混物 ,而 且组分已知时 ,还 可以进行定量分析。层分离后可以鉴别出复合层的组成
,也可以用红外显微镜分析薄膜的切边。3.表面分析,表面红外光谱分析可以测量甘油单油酸酯、聚异丁烯、滑爽剂等表面添加剂和电晕处理。多童内反射是常用的方法 ,但
镜面反射和切线角反射也是很有用的技术 ,它利用红外光谱仪研究表面化学。图 6-9是 利用多重内反射分析薄膜表面的简图。红外光束与内反射元素 (典 型的是锌硒化物和锗)表
面间的夹角和波长决定了光束渗人薄膜表面的深度。渗透得浅 ,对 表面添加剂或改性剂的光谱更敏感。








真空袋薄膜试验是在测试仪上进行的。当作用于滑块的拉力大于薄膜接触面的静摩擦力时
,滑块就在平台上作相对运。测试仪上记录开始运动的拉力值为静摩擦力。滑块均匀滑动约100mm距离时 ,克服阻力的平均值为薄膜的动摩擦力。动、静摩擦力与垂直两表面的荷重之比为动、静摩擦系数。.表面粗糙度的测定IsO
R468
表面粗糙度是表示某一测量长度内,薄膜表面微观凹凸的情况。测试时将1⒛ mm× 60mm试样紧贴在电触针式轮廓仪的固定装置上,根据薄膜的平均粗糙度值选用传感器
,开动机器 ,每块试样测定5次 ,透明真空袋,每一批薄膜取两块试样。求10次 测定的结果的算术平均值 ,真空袋厂家,求 得平均粗糙度 Ra。 即Ra是指在测量长度内
,粗 糙度轮廓上各点至中心线距离的算术平均值。



真空袋生产中用差示扫描量热计DSC测量聚烯烃的结晶度、熔融温度以及结晶和熔融热焓。如图68所示的结果用来鉴别、表征和测量结晶度。薄膜的热历史和机械应力可以通过 DsC测量的熔融和结晶响应来分析。结晶温度随成核作用提高 ,因此可以测量出添加的成核剂的效果。晶体结构随着加工条件和其他处理如取向而变化,而这些都可以通过加热时对聚烯烃的熔融分析测量出来。2.温度调制DsC,温度调制DsC与 DMA类似 ,黔东南真空袋,DMA测试时试样受的是振动力 ,而TMDsC测试时试样处于变化的温度下。温度响应可以归结为可逆比热容 和非可逆比热容。可以同时分析晶体的重结晶、重排和熔融
,这对于理解聚烯烃经过不同 的加工和热处理后形态的均衡非常重要。



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