静电消除系统HDIP-3,HDIP-5,HDIP-6,MPNS-01
静电消除系统HDIP-3,KSD-3000电位测量仪,HDIP-5,电位测量仪KSD-2000,HDIP-6,MPNS-01
微波等离子静电消除系统(MPNS-01)可在高真空下去除静电,由于减少静电的气体成分在真空中很稀薄,静电引起的生产问题比常压环境下更严重。微波等离子静电消除处理系统可以在高真空过程中消除静电,这在过去是很困难的。





?光学式水位计河川用FL-30C日本JFE电位测量仪
水质装置
水质监视装置QW-3000/4000
远程自动管理自来水的水质。
自来水测量项目:连续自动测量「浊度」、「色度」、「残留氯」、「水压」。
QW-3000系列测量了“浊度”、“色度”、“残留氯”三项。
QW-4000系列测量了“浊度”、“色度”、“残留氯”、“水压”4个项目。
规格:
濁度:測定原理透過光吸光度方式
測定範囲:0~4度
精度:(繰り返し性)±2.5%F.S.
色度:測定原理透過光吸光度方式
測定範囲:0~10度
精度:(繰り返し性)±2.5%F.S.
残留塩素:測定原理ポーラログラフ方式(3固定式)
測定範囲:0~3mg/L
精度:(繰り返し性)±2%F.S.
水圧:測定原理半導体検出方式
測定範囲:0~1MPa
精度:(繰り返し性)±0.5%F.S.
試料水条件:温度0~40℃(凍結しないこと)
圧力:0.1~0.75MPa
分析部導入量:190~210mL/min
出力信号:①測定値出力:DC4~20mA(負荷抵抗800Ω以下)
②警報一括号2点 ③故障一括信号 ④イベント信号 ⑤保守信号
入力信号:①ゼロ点校正(濁色度)指令信号 ②洗浄(濁色度)指令信号
周囲温度範囲:-10~45℃、85%RH以下
源:AC90~110V 50/60Hz
盤材料:SUS(塗装あり:塗装色 5Y7/1)
盤寸法:幅500mm×奥行250mm×高さ630mm
質量:約39kg
校正:ゼロ点校正スパン校正
濁度:蒸留PSL標準液
色度:蒸留水色度標準液
残留塩素:オープンゼロDPD比色法
水圧:(オプション)
オープン:ゼロ基準圧力計
自動ゼロ点校正:濁度及び色度
洗浄構:濁度及び色度ワイパーによるセル窓洗浄
残留塩素:ビーズ洗浄、解洗浄
概述:
由于在真空中缓和静电的气体成分稀薄,与大气压环境相比,静电会引起更严重的生产问题,因为无法产生强离子,电位测量仪,所以很难去除静电。
微波等离子静电消除系统可以使用高真空工艺消除静电,电位测量仪KSD-4100,这在以前是很困难的。
高密度静电消除处理系统(HDIS)特征:
高密度静电消除工艺,无接触消除静电。不要使用空气。
通过去除静电痕迹等带电图案,可以生产出高质量的产品。
通过的涂层处理、层压等,可以生产出的产品。
薄膜卷绕时的表面电位增加和吸附现象减少。(减少界面处的累积电荷)
灰尘附着减少。
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