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一般而言，测量混频器的幅度，相位和群时延响应特性要求网络分析仪外接本振。然而，在系统中，本振可能内置在被测的变频器件中，半导体封装设备，网络分析仪无法连接。此外，之前的测量方法也假定参考混频器必须采用和被测混频器相同的本振来驱动；如果网络分析仪内置本振的话就不用了。利用内置的本振源，安捷伦公司PNA微波网络分析仪新增的内嵌本振测量功能可以让用户准确地测量被测混频器的相对相位和群时延响应，而不用外接参考本振信号。简单的两步校准让用户把更多的时间花在测量器件上。测试条件得到优化可以程度地测量元器件，半导体封装设备产业，同时不降低测量质量。

要严格考虑探头各指标对测试电路和示波器测试系统的影响，半导体封装设备售价走势，示波器探头的开发生产总体考虑测试系统的精度，设计探头和示波器的匹配。其中有几个非常重要的方面。

带宽：对于示波器这样的测试系统，示波器和探头的带宽决定了系统的测试带宽。因此，带宽对探头也是非常重要的指标，是测试多快信号的能力表征。

电阻：由于探头的引入会导致整个测试环路的电阻变化，电压信号测试的原理表明电阻变化会影响信号幅度值的测试。

电容器：信号频率转换速度增加时阻抗的容量元件占主导地位。电容性负载成为一个越发显著的问题，特别是电容性负载会影响快速转换波形的升降时间测试。

示波器探头偏置差分探头一般会有较小的电压偏置。这会影响精度，在继续测量前必须消除这个电压偏置。大多数差分电压探头拥有内置的DC偏置调节控制功能，可以相对简单地消除偏置。某些探头内置了自动消磁/自动清零程序，半导体封装设备趋势分析，如在使用TekVPI探头时，只需在探头“comp”框上按一个按钮就可以了。安全准确地测试电压波形和电流波形在使用数字示波器进行电源测量时，必需测量设备中的电压及电流。




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