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工业超声波c扫描介绍

工业超声波C 扫描系统使用计算机控制超声换能器(探头) 在工件上纵横交替搜查，监测高温泵采购， 将探测特定范围内(指工件内部) 的反射波强度以辉度的形式连续显示出来， 这样就可以绘制出工件内部缺陷横截面图形。这个横截面是与超声波声束垂直的， 即工件内部缺陷横截面，监测高温泵厂家，在计算机显示器上的纵横坐标， 分别代表工件截面的纵横坐标。

开放式系统互联模型（OpenSystemInterconnection Model，简称为OSI模型）是一种互联网概念化模型，由国际的标准化组织(InternationalOrganization forStandardization，简称为ISO)提出，监测高温泵，定义于ISO/IEC 7498-1。OSI模型将互联网分为七层，由较高层（用户端）到底层（物理层面）排列为：第7层 应用层（Application Layer）;第6层 表达层（Presentation Layer）；第5层 会话层（Session Layer）；第4层 传输层（Transport Layer）；第3层 网络层（Network Layer）；第2层 数据链接层（Data Link Layer）首层 物理层（Physical Layer）；本词条是第四层传输层中的一种协议（TCP）的选项之一。

工业超声波c扫描应用范围

近年来，工业超声波c扫描显微镜（C-SAN）已被成功地应用在电子工业，尤其是封装技术研究及实验室之中。由于超音波具有不用拆除组件外部封装之非破坏性检测能力，故C-SAN可以有效的检出IC构装中因水气或热能所造成的破坏如﹕脱层、气孔及裂缝…等。 超声波在行经介质时，若遇到不同密度或弹性系数之物质时，即会产生反射回波。而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异.C-SAN即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。因此，只要被检测的IC上表面或内部芯片构装材料的接口有脱层、气孔、裂缝…等缺陷时，即可由C-SAN影像得知缺陷之相对位置。　

C-SAN服务　超声波扫描显微镜(C-SAN)主要使用于封装内部结构的分析，因为它能提供IC封装因水气或热能所造成破坏分析，例如裂缝、空洞和脱层。　

C-SAN内部造影原理为电能经由聚焦转换镜产生超声波触击在待测物品上，将声波在不同接口上反射或穿透讯号接收后影像处理，再以影像及讯号加以分析。　

C-SAN可以在不需破坏封装的情况下探测到脱层、空洞和裂缝，且拥有类似X-Ray的穿透功能，并可以找出问题发生的位置和提供接口数据。