在点线规的应用从点到面不断拓展的同时，其进一步向三维空间的拓展也成为了可能。随着三维测量技术的快速发展，点线规已经能够在三维空间中发挥重要作用。在三维测量中，点线规可以通过多点测量和三维数据处理，构建出物体的三维形状和尺寸。这种三维测量技术，在工业设计、产品检测、医学影像等领域具有广泛的应用前景。通过点线规的三维测量，我们可以更加准确地了解物体的空间形态和尺寸信息，为设计和制造提供更加可靠的数据支持。
污点线规是一种用于检测产品中的污点、划痕、线条等缺陷的工具。以下是关于污点线规的详细信息和特点：定义与用途：污点线规（也称为点规污点规、点线规、菲林尺等）主要用于产品外观检查，以判定污点、表面划痕等缺陷是否符合所要求的精度范围。它通过将被测产品的表面与污点线规上的标准点、线、面进行对照，判断其大小、长短是否在允许的范围内，点线规卡报价，从而确定产品是否合格。规格与参数：测量黑点直径范围：通常为0.10-3.00mm。测量面积范围：一般为0.03-0.5平方毫米（m㎡）。线幅范围：0.08-1.50mm。精度：根据具体规格而定，南开点线规卡，但一般精度较高，小线宽可达0.01mm，点大小可达0.1mm。使用方法：将污点线规（A4或四分之一A4大小）放置于被测产品的表面。对照污点线规上的标准点、线、面，判断产品上的污点、划痕等缺陷是否在规定范围内。若缺陷大小在标准范围内，则产品合格；否则不合格。
点线规测量卡是一种用于测量、对比和判定产品表面点、线、面等缺陷的工具。以下是关于点线规测量卡的详细信息和特点，按照清晰的结构进行分点表示和归纳：定义与用途点线规测量卡（也称为点规线规卡、点规污点规面积对比卡等）主要用于电子、光电、通信等行业中产品的外观检查。它通过对比产品表面的点、划痕等缺陷与测量卡上的标准点、线、面，来判断这些缺陷是否超过规定的尺寸范围。规格与参数点的大小范围：从0.1mm到3.00mm不等，用于测量和对比不同大小的点缺陷。线的长度范围：包括0.02mm， 0.05mm， 0.08mm， 0.1mm， 0.2mm，点线规卡订做， 0.3mm， 0.5mm， 0.7mm， 1.0mm， 3.0mm等多种规格，用于测量和对比不同长度的线条缺陷。面的大小范围：从0.08mm2到1.5mm2不等，点线规卡工艺，用于测量和对比不同面积的面缺陷。尺寸：常见的有点线规A4尺寸（与标准A4纸大小相同）以及其它特定尺寸，如四分之一A4大小等，方便携带和使用。
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