




我们常说的光学测量仪,半导体AOI,一般是说测量样品的光学透过率,有透光率,半导体AOI厂,也有需要测红外透过率和紫外透过率的、 很多领域都能用到,太阳膜、玻璃、PC材料,半导体AOI供应,手机盖板。
1、光电检测是利用光电传感器实现各类检测。它将被测量的量转换成光通量,再转换成电量,半导体AOI设备,并综合利用信息传送和处理技术,完成在线和自动测量.
2、光学信息处理是基于检验光学器具的参数的吧,比如焦距啊,像差,球差什么的,需要《应用光学》相关方面的知识。
在印制板的铜的表面检查显影后的图形使用的更为普遍。对显影后的图形检查,主要侧重点检查的是图形的对准程度和质量缺陷,同时也可以通过对显影图形的检查,也可以及时发现光具(底片)图像是否有缺陷或其它如灰尘、划伤或沾污,或曝光机存在的其它问题。使用AOI对表面图形的检查,就是利用图形介于光敏抗蚀膜的颜色反射能力低和铜颜色反射能力高的差别进行检查。因为抗蚀剂层的颜色发暗,因此两者比较容易好对比。
采取一种多传感器成像、高速分布式处理的AOI系统集成架构。
特点:
1)高速检测系统,与PCB板帖装密度无关。
2)快速便捷的编程系统。
3)运用丰富的多功能检测算法和二元或灰度水平光学成像处理技术进行检测。
4)根据被检测元件位置的瞬间变化进行检测窗口的自动化校正,达到高精度检测。
5)通过用墨水直接标记于PCB板上或在操作显示器上用图形错误表示来进行检测电的核对。
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