无损检测标准试块的常见类型
根据不同的检测技术，无损检测标准试块有以下常见类型：
1. 超声波试块：用于超声波检测，可模拟不同材料和缺陷类型，评估材料的力学性能和内部结构。
2. 射线试块：用于射线检测，能够模拟不同厚度、材质和缺陷类型的材料，用于评估材料的内部结构和缺陷的形状、大小和位置。
3. 磁粉试块：用于磁粉检测，主要用于检测铁磁性材料的表面和近表面缺陷，焊接试块生产加工，如裂纹、气孔等。
4. 涡流试块：用于涡流检测，主要用于检测导电材料的表面和近表面缺陷，如裂纹、夹杂物等。
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7：利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
超声波探伤试块的主要用途有那些？
主要用途如下：（1）测定和校验探伤仪和探头的性能；（2）确定和校验探伤灵敏度；（3）调节仪器的探测范围，确定缺陷位置；（4）评价缺陷的大小，对被检工件评级或判废；（5）测量材料衰减系数和确定耦合补偿等。
超声波试块就是一个已知尺寸和缺陷位置大小的校正参考物。
比如一个厚度100mm，缺陷距离表面90mm的试块，超声波探头打上去以后所产生的回波应该在探伤仪上的100mm.90mm处有两个回波，如果位置有偏差就说明超声波探头没有校正好。
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