热阻分析仪，如果应用于材料叫材料热阻分析仪，如果用于半导体分立器件称为半导体热阻分析仪，X-RAY检测设备有哪些，进行热测量半导体封装设备使用电交界处的温度测量方法。这些热测试包括稳态热阻，瞬态热阻抗，和芯片粘接质量检查。组件测试服务可以为半导体热表征客户装置在我厂实验室做测试。我们还提供完整系列的配件，半导体器件的热特性对所有类型的设备从集成电路分立功率器件。所有产品符合美准和适用。主要用于测试二极管，三极管，LED二极管，可控硅，MOSFET，X-RAY检测仪品牌，IGBT，IC等分离功率器件的热阻测试。
微焦点技术的优势
1、 通过使被透照物体靠近射线源，远离胶片，获得放大的原始细节图像。减轻检测疲劳。
2、 对于一定厚度的被透照物体，微焦点可以放大被检测物的细节提供更一致的清晰度。
微焦点x射线设备具备图像放大，提高空间分辨力，减少散射的能力，X-RAY检测仪，从而使它成为工业CT系统的理想射线源。
X-RAY WorX GmbH是德国高科技研发型公司，X-RAY检测，研发了具有超高灵活性、超高稳定性、超高精度的开放式微焦点X射线管，分为透射式微焦点X射线管、反射式微焦点X射线管、头X射线管和棒阳极微焦点X射线管。可根据不同的应用，选择不同的靶功率（10W、15W、25W、50W、300W等）和电压（65W、100kV、160kV、190kV、225kV、240kV和300kV等）。
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