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磁致伸缩导波技术有哪些发展历程？

磁致伸缩导波技术从发现到现在的应用，经历了漫长的发展历程。

1842年，科学家James Prescott Joule发现了磁致伸缩效应。这一发现为磁致伸缩导波技术的产生奠定了基础。

1940年，磁致伸缩技术成功应用于潜艇声纳测距系统，这是磁致伸缩导波技术头次在声纳领域得到应用。

1960年，美国人Jack Tellerman向美国申请了磁致伸缩位移传感器。这一发明标志着磁致伸缩导波技术进入了新的阶段，并开始在工业领域得到应用。

进入21世纪，磁致伸缩导波技术得到了更广泛的应用，如用于非接触位移、液位、转速等测量。随着科技的发展，磁致伸缩导波技术的性能和精度也不断提高，成为了一种重要的无损检测技术。

工业超声波c扫描应用范围

近年来，工业超声波c扫描显微镜（C-SAN）已被成功地应用在电子工业，尤其是封装技术研究及实验室之中。由于超音波具有不用拆除组件外部封装之非破坏性检测能力，热红外线成像仪，故C-SAN可以有效的检出IC构装中因水气或热能所造成的破坏如﹕脱层、气孔及裂缝…等。 超声波在行经介质时，若遇到不同密度或弹性系数之物质时，热红外线成像仪厂家，即会产生反射回波。而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异.C-SAN即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。因此，热红外线成像仪公司，只要被检测的IC上表面或内部芯片构装材料的接口有脱层、气孔、裂缝…等缺陷时，热红外线成像仪采购，即可由C-SAN影像得知缺陷之相对位置。　

C-SAN服务　超声波扫描显微镜(C-SAN)主要使用于封装内部结构的分析，因为它能提供IC封装因水气或热能所造成破坏分析，例如裂缝、空洞和脱层。　

C-SAN内部造影原理为电能经由聚焦转换镜产生超声波触击在待测物品上，将声波在不同接口上反射或穿透讯号接收后影像处理，再以影像及讯号加以分析。　

C-SAN可以在不需破坏封装的情况下探测到脱层、空洞和裂缝，且拥有类似X-Ray的穿透功能，并可以找出问题发生的位置和提供接口数据。

导波检测原理

导波检测原理：尽管导波检测通常被认为是超声导波检测或远程超声波检测，但是从根本上它与传统的超声波检测并不相同；与传统超声波检测相比，导波检测使用非常低频的超声波，通常在10~100千赫。有时也使用更高的频率，但是探测距离会明显减少。另外，导波的物理原理比体积型波更加复杂。很多理论在其他个别的文章中有所阐述，这里将更多的讨论导波检测的实践。