ICP-MS简述
20世纪60年代末期，采用电感耦合等离子体源的原子光谱技术成为当时应用于微量元素分析的一项非常有前
途的技术（Greenfield等，1964； Wendt与Fassel， 1965）。但在分析超低含量物质时由于背景光谱增强，光谱干扰
严重使分析灵敏度和准确度达不到要求。只有质谱法能同时满足谱图简单、分辨率适中和较低检出限的要求。因此， ICP-AES所具有的样品易于引入、分析速度快、多元素同时分析的特点与质谱仪的联用成为科学和商业上研究的
热点。1970年许多公司深入的参与了该技术的研究，CP作为发射源使等离子体中分析物有效电离能够满足新一代
仪器源的要求。同时也注意到惰性气体在大气压下的电等离子体可能是一个很好的离子源。因此人们采用四极杆 质量分析器和通道式离子检测器开展可行性研究。Gral在70年代中期首先报道了用等离子体作为离子源的质谱分 析法。1981年Gray在Surrey实验室设计完成了 ICP源上所预期性能的设备，获得了张ICP谱图。1983年英 国VG公司与加拿大Sciex公司推出商业化的ICP-MS，1984年在用户实验室才安装ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化学分析中广泛应用开来。
钢研纳克国产ICP-MS PlasmaMS 300
优势1——的四极杆电源驱动技术
DDS变频技术
自动频率匹配调谐，无需手动调电容，更安全
没有机械电容部件，拥有的稳定性、抗震动，无需经常校准质量轴
：《 一种用于四级杆质谱仪的射频电源》201610006009.2
PlasmaMS 300 优势2——的真空控制系统
的缓冲技术，机械泵间断运行，仪器待机功耗极低
解决高真空腔体被机械泵油气污染问题，保证仪器长时间性能稳定
受保护《一种电磁阀缓冲、无返油涡轮分子泵抽真空系统》ZL2017 20926451.7
为了使 ICP-MS 质谱仪能够准确地分析样品，需要进行适当的样品前处理，需要进行适当的样品前处理，以将待测元素从基体中电离出来，并将其转化为易于电离的形式。常用的前处理方微波括湿法消解、干法灰化、微波消解等。
湿法消解是将样品与酸或碱等试剂混合，在高温下进行消解，以将待测元素从基体中分离出来。干法灰化是将样品在高温下进行灰化，以将待测元素从基体中分离出来。微波消解是将样品在微波炉中进行消解，以将待测元素从基体中分离出来。
在进行样品前处理时，需要注意以下几点：
选择适当的前处理方法：根据样品的性质和待测元素的性质，选择适当的前处理方法。
控制样品的量和浓度：样品的量和浓度会影响 ICP-MS 质谱仪的分析结果，因此需要控制样品的量和浓度，以保证分析结果的准确性。
避免污染：在进行样品前处理时，需要避免污染，以保证分析结果的准确性。
控制消解温度和时间：消解温度和时间会影响 ICP-MS 质谱仪的分析结果，电感耦合等离子体质谱厂家，因此需要控制消解温度和时间，以保证分析结果的准确性。
进行空白对照实验：在进行样品前处理时，需要进行空白对照实验，以保证分析结果的准确性。
总之，为了使 ICP-MS 质谱仪能够准确地分析样品，需要进行适当的样品前处理，以将待测元素从基体中分离出来，并将其转化为易于电离的形式。在进行样品前处理时，需要注意选择适当的前处理方法、控制样品的量和浓度、避免污染、控制消解温度和时间、进行空白对照实验等。
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