昨天在知乎里面提了个问题“电子元器件存放多久后需要重新评估焊锡性,有没有标准定义?”,一天下来发现大家其实针对这个问题都没有好好的研究过,所以今天在这里好好的跟大家讨论讨论关于电子元器件在运输与存储方面的一些标准,以及标准要求。
首先,我们先聊一下研究这个问题的背景,前不久我的一位从事供应商质量管理的朋友碰到了个麻烦事情,他们SMT在打板时发现有一个批次的MOSFET发生大批量拒焊问题,所以判定为零件长期未使用造成了元器件的焊锡性失效,但问题是制造商并没有将相应MOS的保质期写在零件的规格书中,所以导致这位SQE也没办法判定,是否为真的过期导致。







2,短路补救措施:
1)调高预热温度。
2)调慢输送带速度,并以Profile确认板面温度。
3)更新助焊剂。
4)确认锡波高度为1/2板厚高。
5)清除锡槽表面氧化物。
6)变更设计加大零件间距。
7)确认过炉方向,以避免并列线脚同时过炉或变更设计并列线脚同一方向过炉。
二、DIP后焊不良-漏焊
特点:零件线脚四周未与焊锡熔接及包覆。
允收标准:无此现象即为允收,若发现即需二次补焊。
影响性:电路无法导通,电气功能无法显现,偶尔出现焊接不良,电气测试无法检测。

DIP后焊不良-冷焊
特点:焊点呈不平滑之外表,严重时于线脚四周,产生绉褶或裂缝。
允收标准:无此现象即为允收,SMT加工价格,若发现即需二次补焊。
影响性:焊点寿命较短,容易于使用一段时间后,开始产生焊接不良之现象,导致功能失效。
1,冷焊造成原因:
1)焊点凝固时,受到不当震动(如输送皮带震动)。
2)焊接物(线脚、焊垫)氧化。
3)润焊时间不足。
2,冷焊补救措施:
1)排除焊接时之震动来源。
2)检查线脚及焊垫之氧化状况,如氧化过于严重,可事先Dip去除氧化。
3)调整焊接速度,加长润焊时间。


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