200度可编程存储器参数-可编程存储器-合肥启尔特

EEPROM在写新的数据前不需要先擦除，可以每次改写一个字节。这种灵活的擦写方式使得EEPROM在需要频繁更新数据的场景中具有优势。然而，150度高温可编程存储器参数，EEPROM的读写速度相对较慢，且容量较小，价格较高。

Flash存储器在写新的数据前必须先擦除，而且经常是只允许整页擦除，没有办法擦除一个字节。这种成块的读写方式使得Flash存储器在写入大量数据时具有较高的效率。但需要注意的是，Flash存储器的擦除操作相对复杂，需要消耗较长的时间。

Intel于1988年首先开发出NOR flash技术，200度可编程存储器参数，改变了原先由EPROM和EEPROM一统天下的局面。

NOR Flash的读取和我们常见的SDRAM的读取是一样，即可以根据地址随机读写，用户可以直接运行装载在NOR FLASH里面的代码，这样可以减少SRAM的容量从而节约了成本。因为其读取速度快，多用来存储程序、操作系统等重要信息。

1.位翻转错误：EEPROM存储器中的存储单元可能会因为电子泄漏或干扰而发生位翻转，导致存储的数据发生错误。这种情况可能会导致系统崩溃或数据丢失。

2、写入错误：EEPROM存储器在写入数据时，可能会发生写入错误。这可能是由于电压不稳定、电流过大或其他原因引起的。写入错误可能导致存储的数据损坏或不完整。

3、擦除错误：EEPROM存储器在擦除数据时，可能会发生擦除错误。这可能是由于擦除电压不稳定、擦除时间过长或其他原因引起的。擦除错误可能导致存储的数据无法完全擦除或部分损坏。