全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，微区膜厚仪厂商，实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe，宁德微区膜厚仪， Ag/Cu，Zn/Fe等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu，微区膜厚仪加工， Ag/Pb/Zn，微区膜厚仪哪里有， Ni/Cu/Fe等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度
微区膜厚仪加工-宁德微区膜厚仪-英飞思科学仪器公司由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支高素质的员工队伍，力求提供更好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。英飞思科学——您可信赖的朋友，公司地址：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室，联系人：张经理。