微焦点X射线检测
主要技术参数：
1、开放式球管射线源，漏电点定位，高管电压160kV，漏电点定位公司，大管电流1mA，大靶功率7W
2、焦点尺寸2μm
3、探测器倾斜角度为±70°，图像≥100万像素，灰度等级为16位
4、载物台可绕旋转轴360度旋转
5、大可检测样品重量5Kg
6、大可检测样品尺寸为
460mm×410mm×300mm
用途：可用于半导体产品、微电子元件、电路板焊接器件等电子产品焊点质量检测及多余物检测，也可进行小直径管焊缝质量检测。
热阻测试仪应用范围：各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。 各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。 各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。 半导体器件结温测量。 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。 半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。 材料热特性测量（导热系数和比热容）。 接触热阻测量，包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。
热阻测试仪是一种用于物理学领域的分析仪器，漏电点定位设备，于2011年01月15日启用。加热电压范围：0~50V，测量精度：-0.009%；加热电流范围：0~10A，测量精度：0.063%；热电偶测量精度：-0.01℃。用于测试LED芯片工作时的PN结温度。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。
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