温补振荡器组成
温度补偿晶体振荡器的温度-电压补偿码特性曲线测试系统，给出了测试系统的总体设计方案，测试服务器的软硬件设计方法和基于事件驱动的计算机测试软件模型.测试系统由计算机，测试服务器，高低温试验箱和高精度数字频率计等组成，由人工方式设置温箱温度，温度补偿晶振报价，恒温时间，采用人工或自动方式选择待测数字温度补偿振荡器试件，提取待测数字温度补偿振荡器的温度码和按温度频率稳定度设定补偿电压码，自动生成数字温度补偿电路所需的Intel-HEX格式的单片机机器码文件.实验结果表明，设计的测试系统能够满足高精度数字温度补偿振荡器批量生产的需要.
温补振荡器广泛应用
现代电子，通信设备对时钟源的准确度有着越来越高的要求.在获得时钟源的各种方法中，晶体振荡器有着优良的稳定性和准确性而获得广泛应用.但是晶体振荡器的振荡频率还是会受到一些因素的影响(如电磁干扰，机械震动，湿度和温度等)，特别是温度对振荡器的振荡频率影响很大.为了获得准确的频率源，温度补偿晶振厂家，就要在一定温度范围对振荡器电路进行补偿. 本文对温度补偿晶体振荡器电路进行了研究和设计.主要包括可调频率振荡器，带隙测温电路，温度补偿晶振价格，模拟数字转换系统(AD)，以及低压线性转换器(LDO).
温补振荡器的温度范围
温度补偿晶体振荡器，其包括:底座;设置于底座上的焊盘;设置于底座上的温补芯片，温补芯片的引脚与焊盘电连接;设置于底座上的石英振子;及焊接于底座的顶部的金属盖板，温度补偿晶振，用于封盖温补芯片和石英振子.本发明中温补晶体振荡器解决了传统温补晶振中无法满足在55℃～+85℃宽温度范围频率稳定度≤±1ppm的问题，通过优化产品的结构和调试方法，实现晶体振荡器在55℃～+85℃宽温度范围频率稳定度≤±1ppm的指标，通过小型化和集成化的设计，实现了产品的SMD5032外形尺寸.
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