x射线发生装置结构
主要包括三部分：X射线光管、测角仪和检测器。采用应用广泛的Cu靶作为X射线源，配备PIXcel高能检测器，此检测器为固态探测器由65000个像素组成，每个像素的尺寸为55×55微米，每个像素都有独立电路，中能x射线发生装置厂家，具有快速读出时间和较高的动态范围：每像素行每秒超过1300万次计数。此外仪器光路系统配备索拉狭缝、防散射狭缝、面罩、单色器等，以使X射线源发射X射线光以单色光源照射样品，而样品产生的衍射光以平行光束达到检测器。
x射线发生装置角度校准的光学新方法
目前x射线发生装置的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件，具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试，该测量方法实际应用中存在一定难度，中能x射线发生装置哪家好，其次测量间隔较大，中能x射线发生装置多少钱，不能很好反映真实的角度误差规律.为此，提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点，组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器，设计了一种新的XRD的角度校准方法，它能够自动快速地连续测量角度，取k=2时，扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够得到θ和2θ轴的误差数据，可用于修正XRD测角误差，中能x射线发生装置，提高XRD测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.
x射线发生装置使用范围：
金属材料：半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料；无机材料：陶瓷材料、磁性材料、催化剂、矿物、水泥、玻璃；复合材料：碳纤维、纤维大分子、工业废弃物；有机材料：品、工程塑料、各种树脂等。利用波长很短的电磁波能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感、气体电离，测定物质的晶体结构，织构及应力，的进行物相分析，定性分析，定量分析。
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