







PV试验在DV试验基础上增加环境模拟试验。所用零件必须是正常生产线下来的模具件。环境模拟包括粉尘、温度震动、温湿冲击、温度冲击等。在实验室温箱中实现全生命周期的老化过程。老化之后的零件进行基础点爆,吉林磨损监测,需满足设计要求。涉及到环境耐久,属于长周期试验,一轮一般至少需要3个月。供应商内部的子零件测试会更加严格,如发生器的温湿试验,设计冗余要大于整车使用寿命。
1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试,目的是测试自动生成的代码写入控制器后,磨损监测机构,功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要,但不做重视也会引起一些不良后果(如调度问题、CPU Load,堆栈溢出等)
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试,刹车片磨损监测,测试控制器完整系统功能,一般会搭建控制器所在系统的测试台架,使用电气元件模拟传感器(如温度)和执行器(如风扇负载)的电气特性,验证完整的系统功能。
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