气密性测试仪是一种无损检漏设备，可广泛应用于电动牙刷、蓝牙音箱、耳机、对讲机等电子产品与阀门管件、电线、安防等产品.
的气密性/密封性检漏。气密性检测仪的检漏方法主要有直压法和差压法两种，北京失效分析，具体采用哪-种需要根据产品的特点去决定。气
密性测试仪常见的一种气密性检测与防水测试方法是直压法，这种检测的就是产品内气压的总泄漏率或者说总泄漏率。直压检测
法做密封性测试就是将定量定压力气体充入试件中，然后通过传感器实时检测内部气压变化，以确认试件是否泄漏或泄漏量多少
的一种密封性测试方法。直压检测法实现起来简单，成本低所以用的比较多。
热阻测试仪应用范围：各种三极管、二极管等半导体分立器件，元器件失效分析，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。 各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。 各种复杂的散热模组的热特性测试，失效分析设备，如热管、风扇等。 半导体器件结温测量。 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。 半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。 材料热特性测量（导热系数和比热容）。 接触热阻测量，包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。
射线照相法（RT）是指用X射线或γ射线穿透试件，以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法，设备失效分析，该方法是基本的，应用的一种非破坏性检验方法。原理：射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光，当X射线或γ射线照射胶片时，与普通光线一样，能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影，由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同，照射到胶片各处的射线强度也就会产生差异，便可根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。
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