





在无损检测的基础理论研究和仪器设备开发方面,电子元器件失效分析,中国与世界国家之间仍有较大的差距,特别是在红外、声发射等高新技术检测设备方面更是如此。常用的无损检测方法:涡流检测(ECT)、射线照相检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT)五种。其他无损检测方法:声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。

需要考虑的是焦点到X射线管窗口外表面的距离,它决定了被检样品到焦点的小距离。 这一参数的重要性在于它决定了一个微焦点系统可能达到的大放大倍数。 由于防护设施空间的局限以及射线的衰减与距离的平方成反比(I/R2 ),我们无法随意拉长胶片或探测器到射线源的距离以增大放大倍数。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。
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