元器件失效分析-苏州特斯特公司-元器件失效分析公司

　热阻测试仪是的热测试仪，用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。该仪器基于的测试方法，通过改变电子器件的输入功率，元器件失效分析公司，使得器件产生温度变化，在变化过程中，仪器测试出芯片的瞬态温度响应曲线，仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的的热特性。仪器测试技术不是基于“脉冲方法”的热测试仪，“脉冲方法”由于是基于测量的技术所以其测出的温度瞬态测试曲线精度不高，而热阻测试仪采用的是“运行中”的实时测量的方法，结合其精密的硬件可以快速扑捉到高信噪比的温度瞬态曲线。

Phasc12测试来的数据，器件有四个层次。其中个是芯片下的粘接层的阻抗值，后面Tau是完成的测试时间，四个层次的阻抗值之和就是这个器件的热阻值。并且每一-个拐点 都表明热进入了一个新的层次。每个层次的数据将表明这个器件不同层向外散热的好坏，对不同厂家同类产品而言，可以让我们选择热阻值非常好的厂家;同时它也可以检测同- ~厂家，同类产品，电子元器件失效分析，不同批次质量的差异，从而评测出该厂家生产工艺的稳定性。主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，元器件失效分析，LED， MOSFET，MESFET ，IGBT，IC等分立功率器件的热阻测试及分析。

PHASE12 可以测试 Rja，Rjc，Rjb Rjl 的热阻（测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试

方法）

1） 瞬态阻抗(Thermal Impedance)测试，元器件失效分析设备，可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗

数据。

2） 稳态热阻(Thermal Resistance)各项参数的测试，其包括：Rja，Rjb，Rjc，Rjl， 当器件在给一定的工

作电流后。热量不断地向外扩散，达到了热平衡，这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达

到热平衡之前测试到的是热阻抗。

3） 可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。

4） 内部封装结构与其散热能力的相关性分析(Structure Function)。

5） 装片质量的分析(Die Attachment Quality Evaluation).

6） .多晶片器件的测试。

7.SOA 图表生成

8.浪涌测试

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