1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，预测性维护技术，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，武汉预测性维护，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，工业预测性维护，堆栈溢出等）
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。
仪表板总成测试机械试验（耐冲击试验、结构刚强度测试、操作性能试验、模态分析）
耐久试验（手套箱耐久试验、出风口耐久试验、仪表板总成耐久试验、关键寿命试验）
声学试验（噪声试验）
环境试验（尺寸稳定性试验、红外光老化试验、温湿度循环试验）
门系统测试基本电学试验（线阻测量、过电压试验、热保护试验、电流测量试验）
连接器测试电学试验（电压降测试、接触电阻测量、绝缘测试、瞬断测试）
机械试验（机械振动试验、跌落试验、机械冲击试验、相关力学试验）
环境试验（温度冲击试验、温度湿度循环试验、高温老化试验、防腐蚀强度试验）
机械试验（机械冲击试验、机械振动试验、自由跌落试验、外壳强度试验）
环境试验（低温唤醒试验、高温耐久试验、低气压试验、快速温变试验、恒温恒湿试验、空气热冲击试验、温湿度循环试验、凝露试验）
盐雾试验
密封性试验（防尘、防水IP等级试验）
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