SKF Microlog 分析仪 dBX 是 SKF 当今提供的为的大屏幕震动分析仪。 其特征允许您快速获取多种振动数据。由于分析仪具有高度灵活性，可对您公 司中影响到特定预防性维护计划的应用提供支持。开发用于多种行业
大屏幕
SKF Microlog分析仪dBX10.1英寸高分辨率彩
色显示屏，在任何光照条件下都易于观看和分析。 屏幕上多可显示6 个区域。
MPAin-a-flash
Multi-point Acquisition（MPA）是SKF公司快的 振动系统。节约测量时间
使用简单
快速入门，几乎不需要培训
触摸屏幕
物理背光键盘和触摸屏控制。
设备数据分析
在设备上进行数据分析的可能性，而没有 需要使用外部计算机。配备SKF gE 包络 确定轴承的状况。
大容量存储器
256 GB内存。有足够的存储空间来满足您的分析需求。
坚固
达到 IP 65 认证级别，防尘防水，SKF+ Microlog 分析仪报价，在工业环境下确 保可靠性
持久续航
充电锂电池多支持八小时的 连续数据采集。
准备独立
或在线工作
SKF Microlog 分析仪dBX可以作为一个独立的工具使用，并采取 收集和分析来自旋转机械的数据，以确定机器的健康状况。
它还可以连接到SKF，如SKF@F @ptitude Analyst，
以处理分析、本地和远程数据存储和预定义的测量路由到dBX。
测点位置选择的一般原则
可以安全、重复地采集数据
在轴承座的水平、垂直和轴向三个正交方向上布置测点
测点尽可能靠近轴承的承载区__Env
一个方向因故偏离理想位置并不影响其他测点仍保持在 理想位置
不在设备外壳、保护罩、轴承座剖分面、设备结构间隙 上设置测点
测点位置选择的一般原则
可以安全、重复地采集数据
在轴承座的水平、垂直和轴向三个正交方向上布置测点
测点尽可能靠近轴承的承载区__Env
一个方向因故偏离理想位置并不影响其他测点仍保持在 理想位置
不在设备外壳、保护罩、轴承座剖分面、设备结构间隙 上设置测点
SKF+ Microlog 分析仪报价-昆山金斗云测控设备由昆山金斗云测控设备有限公司提供。行路致远，砥砺前行。昆山金斗云测控设备有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴，更矢志成为仪器仪表具有竞争力的企业，与您一起飞跃，共同成功!